| 基于内建自测试的伪随机测试向量生成方法 |
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| 引用本文： | 邱航,王成华.基于内建自测试的伪随机测试向量生成方法[J].淮阴师范学院学报(自然科学版),2006,5(3):212-215. |
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| 作者姓名： | 邱航 王成华 |
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| 作者单位： | 南京航空航天大学,信息科学与技术学院,江苏,南京,210016;南京航空航天大学,信息科学与技术学院,江苏,南京,210016 |
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| 摘 要： | 内建自测试作为一种新的可测性设计方法,能显著提高电路的可测性.本文研究了内建自测试中的测试向量的生成方法,详细介绍了由线性反馈移位寄存器构成的伪随机序列生成电路的原理,给出了由触发器和异或门构成的外接型、内接型以及混合型伪随机序列生成电路.
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| 关 键 词： | 可测性设计 内建自测试 线性反馈移位寄存器 伪随机序列生成电路 |
| 文章编号： | 1671-6876（2006）03-0212-04 |
| 收稿时间： | 2006-06-08 |
| 修稿时间： | 2006年6月8日 |
The Pseudorandom Test Pattern Generation for BIST |
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| QIU Hang,WANG Cheng-hua.The Pseudorandom Test Pattern Generation for BIST[J].Journal of Huaiyin Teachers College(Natrual Science Edition),2006,5(3):212-215. |
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| Authors: | QIU Hang WANG Cheng-hua |
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| Abstract: | As a new method of design for testability build-in self-test can prominently improve the testability of the circuits.The test pattern generation method is investigated in BIST.The design of pseudorandom sequences generation based on linear feedback shift register is described particularly.The internal,external and combined pseudorandom sequences generations composed of trigger and XOR gate are given. |
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| Keywords: | testability design build-in self-test linear feedback shift register pseudorandom sequences generation |
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