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| 基于透射电子显微镜的纳米颗粒 图像识别研究综述 | |
| 引用本文： | 高鹏,石晓龙.基于透射电子显微镜的纳米颗粒 图像识别研究综述[J].广州大学学报(自然科学版),2019,18(1). |
| 作者姓名： | 高鹏 石晓龙 |
| 作者单位： | 华中科技大学人工智能与自动化学院,湖北武汉,430074;华中科技大学人工智能与自动化学院,湖北武汉 430074;广州大学计算科技研究院,广东广州 510006 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金;国家自然科学基金 |
| 摘 要： | 对纳米颗粒图像的研究将有助于科研人员更好地了解纳米粒子的性质,传统的研究方法多为人工手动处理,耗时耗力、主观性强、误判率高,已不能满足微纳米研究的需要.而基于图像处理技术的纳米颗粒识别具有快速、准确、实时等特点,能够帮助科研人员及时高效的对纳米颗粒图像进行分析.本文从图像预处理、粒子检测、参数测量等3个方面,分别阐述了图像处理技术在纳米粒子识别中的研究现状和进展,并对今后的研究趋势进行展望. |
| 关 键 词： | 纳米颗粒 图像处理 粒子检测 参数测量 |
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