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IC中心设计的一种改进方法
引用本文:李庆武.IC中心设计的一种改进方法[J].河南师范大学学报(自然科学版),1995,23(4):30-33.
作者姓名:李庆武
作者单位:河南师范大学物理系
摘    要:本文利用回归模型作为IC的影象模型,按照控制变量Monte-Carlo分析方法进行IC成品率估计,将一维搜索法与随机逼近优化法相结合进行IC中心设计,实例证明了该方法的可行性和实用性。

关 键 词:电路中心设计  回归模型  随机逼近  集成电路

An Improved Techiiique for IC Design Centering
LiQingwu.An Improved Techiiique for IC Design Centering[J].Journal of Henan Normal University(Natural Science),1995,23(4):30-33.
Authors:LiQingwu
Abstract:new improved yield maximization technique which combines one dimension explora-tion with Stochastic approximation is presented.The IC yield estimated using correlated sampling andregression modelvia control variate Monte Carlo method, An example shows the feasibility andusability of this method.
Keywords:centering design of circuits  regression model  stochastic approximation
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