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三元合金异质结InxGa1-xAs/InxAl1-xAs的价带带阶ΔEv值研究
引用本文:郑金成,郑永梅,王仁智.三元合金异质结InxGa1-xAs/InxAl1-xAs的价带带阶ΔEv值研究[J].科学通报,1996,41(23):2136-2138.
作者姓名:郑金成  郑永梅  王仁智
作者单位:厦门大学物理系!厦门361005
基金项目:国家自然科学基金,福建省自然科学基金,厦门光电子公司工业部资助项目
摘    要:三元合金异质结是异质结器件的重要材料,它广泛应用于微波和光电器件中。如组分x=0.3的合金异质结可用于研制高电子迁移率晶体管(HEMTs)、绝缘栅场效应晶体管(HIGFETs)和谐振隧道二极管(RTDs);组分x=0.53的三元合金异质结广泛应用于光电子的高速光电器件中。在决定量子阱、超晶格电子态的因素中,半导体异质结界面两侧价带带阶△E_v值(即valence-band offsets)是重要的物

关 键 词:异质结  价带带阶  平均键能  三元合金  半导体
收稿时间:1996-04-16
修稿时间:1996-07-18
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