| 塞曼效应实验中显微测微技术及测量误差分析 |
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| 引用本文： | 管亮,龚学余,胡解生.塞曼效应实验中显微测微技术及测量误差分析[J].南华大学学报(自然科学版),2004,18(2):103-104. |
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| 作者姓名： | 管亮 龚学余 胡解生 |
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| 作者单位： | 1. 南华大学,数理学院,湖南,衡阳,421001
2. 南华大学,核科学技术学院,湖南,衡阳,421001 |
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| 摘 要： | 介绍显微测微技术的测量原理及其在塞曼效应实验中的应用,分析了测微过程中产生的误差.
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| 关 键 词： | 塞曼效应 测微 误差分析 |
| 文章编号： | 1006-737X(2004)02-0103-02 |
| 修稿时间： | 2004年1月12日 |
Technology of Microscopy and Micrometer in the Experiment of the Effect of Zeeman and the Error Analysis |
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| GUAN liang,GONG Xue-yu,HU Jie-sheng.Technology of Microscopy and Micrometer in the Experiment of the Effect of Zeeman and the Error Analysis[J].Journal of Nanhua University:Science and Technology,2004,18(2):103-104. |
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| Authors: | GUAN liang GONG Xue-yu HU Jie-sheng |
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| Institution: | GUAN liang~1,GONG Xue-yu~2,HU Jie-sheng~1 |
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| Abstract: | In this paper,the principle of microscopy and micrometer is described,and used in the experiment of the effect of Zeeman.The systematic error of the instrument is analyzed. |
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| Keywords: | the effect of Zeeman micrometry error analysis |
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