| 一种测量子电路参数的新方法 |
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| 引用本文： | 元(屮录),杨文霞. 一种测量子电路参数的新方法[J]. 南开大学学报(自然科学版), 2000, 33(2): 119-120 |
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| 作者姓名： | 元(屮录) 杨文霞 |
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| 作者单位： | 南开大学信息科学与技术学院,天津 |
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| 摘 要： | 本文提出了一种测量电子参数的新方法。通过对待测子电路的影响视为系统误差，再经过校准过程而消除之，此方法无需拆下子电路，因此精度高，操作简便。
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| 关 键 词： | S参数 校准 子电路参数 测量 电子电路 |
A NEW METHOD FOR MEASUREMENT OF SUB-CIRCUIT'S PARAMETER |
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| Yuan Lu,Yang Wenxia. A NEW METHOD FOR MEASUREMENT OF SUB-CIRCUIT'S PARAMETER[J]. Acta Scientiarum Naturalium University Nankaiensis, 2000, 33(2): 119-120 |
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| Authors: | Yuan Lu Yang Wenxia |
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| Abstract: | In this paper, a new method for measuring the parameters of sub circuit is introduced. With the aid of calibration, the S parameters of the sub circuit can be measured while the sub circuit need not be separated from the main circuit.$$$$ |
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| Keywords: | S parameters Calibration Sub circuit |
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