| 用共振光散射光谱法测定痕量阳离子表面活性剂的研究 |
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| 引用本文： | 张姝,谢永红,李树伟. 用共振光散射光谱法测定痕量阳离子表面活性剂的研究[J]. 四川师范大学学报(自然科学版), 2008, 31(6) |
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| 作者姓名： | 张姝 谢永红 李树伟 |
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| 作者单位： | 1. 四川师范大学,化学与材料科学学院,四川,成都,610066
2. 内江师范学院,化学与生命科学学院,四川,内江,641000 |
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| 摘 要： | 在pH值2.0的B-R缓冲液中,痕量的溴化十六烷基三甲基胺(CTMAB)的加入导致K2HgI4共振光散射强度增加,在λex=λem=422 nm处,得到一个共振散射峰,其强度与CTMAB的浓度成线性关系,据此建立了一种测定水中阳离子表面活性剂的共振光散射光谱法.方法的线性范围为0.02-6.50 mg/L,检出限为0.15 μg/L.该方法简便快速,灵敏度高,对实际样品进行了测定,得到了满意的结果.
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| 关 键 词： | 阳离子表面活性剂 共振光散射光谱法 |
RLS Method for the Determination of Trace Cationic Surfactants |
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| ZHANG Shu,XIE Yong-hong,LI Shu-wei. RLS Method for the Determination of Trace Cationic Surfactants[J]. Journal of Sichuan Normal University(Natural Science), 2008, 31(6) |
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| Authors: | ZHANG Shu XIE Yong-hong LI Shu-wei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | K2HgI4 |
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