| 一种有效评估桥接故障的IDDQ可测试性分析算法 |
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| 引用本文： | 冯建华,孙义和,李树国.一种有效评估桥接故障的IDDQ可测试性分析算法[J].清华大学学报(自然科学版),2003,43(1):140-143. |
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| 作者姓名： | 冯建华 孙义和 李树国 |
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| 作者单位： | 清华大学,微电子学研究所,北京,100084 |
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| 基金项目： | 国防重点实验室基金 (514330202);国家自然科学基金资助项目 (90207018) |
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| 摘 要： | 鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法.这种算法是基于给电路中每个门施加基本矢量集的概率进行的.开始在原始输入端采用单值标记,通过电路分级和从原始输入端传播标记集可识别重汇聚扇出门,然后采用反向蕴含过程计算重汇聚门基本矢量的概率值,进行重汇聚扇出点的评价.实验结果表明这种算法可获得较精确的可测试性分析结果.
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| 关 键 词： | IDDQ测试 可测试性分析 重汇聚扇出 反向蕴含 |
| 文章编号： | 1000-0054(2003)01-0140-04 |
| 修稿时间： | 2001年12月17 |
IDDQ testability analysis for bridge faults |
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| FENG Jianhua,SUN Yihe,LI Shuguo.IDDQ testability analysis for bridge faults[J].Journal of Tsinghua University(Science and Technology),2003,43(1):140-143. |
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| Authors: | FENG Jianhua SUN Yihe LI Shuguo |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | I_(DDQ) testing testability analysis reconvergent fanout backward implication |
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