| 基于单片机数字集成电路参数测试仪的设计 |
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| 引用本文： | 施养智.基于单片机数字集成电路参数测试仪的设计[J].漳州师范学院学报,2009,22(1). |
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| 作者姓名： | 施养智 |
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| 作者单位： | 漳州师范学院,物理与电子信息工程系,福建,漳州,363000
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| 摘 要： | 本系统以PIC16F73为核心,利用A/D及D/A转换实现对数字集成门电路7404主要特性参数的全自动测定,同时还可通过双踪示波器直观地显示门电路的电压传输特性曲线,利用两片数字电位器可实现门电路的输入负载特性曲线.
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| 关 键 词： | D采集 D/A转换 参数测量 特性曲线 |
Designed of Numerical Integrated Circuit Parameter Test Instrument Base on MCU |
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| SHI Yang-zhi.Designed of Numerical Integrated Circuit Parameter Test Instrument Base on MCU[J].Journal of ZhangZhou Teachers College(Natural Science),2009,22(1). |
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| Authors: | SHI Yang-zhi |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | PIC16F73 |
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