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一种采用全MOS器件补偿温度和沟调效应的电流控制振荡器
引用本文:李凡阳,杨涛. 一种采用全MOS器件补偿温度和沟调效应的电流控制振荡器[J]. 福州大学学报(自然科学版), 2017, 45(3)
作者姓名:李凡阳  杨涛
作者单位:福州大学,福州大学
基金项目:国家自然科学基金项目(青年基金)项目编号:61501122
摘    要:本文提出一种全MOS器件补偿温度和沟调效应电流控制振荡器补偿方法,以减小医疗导联系统通信时钟恢复电路的振荡器的震荡频率偏移。与传统的振荡器相比,该振荡器采用全MOS器件设计温度和偏置电流补偿电路,在增强可靠性的情况下降低了温度和沟调效应引起的频率偏移。电路采用.35um标准MOS工艺设计,通过与传统的振荡器性能进行仿真比较,该方法的震荡频率的偏移量得到明显改善。

关 键 词:MOS器件;振荡器;温度;沟调效应
收稿时间:2016-06-20
修稿时间:2016-08-28

A Temperature and Channeling Effect-Minimized Current Controlled Ring Oscillator using all MOS Devices
LI FANYANG and YANG TAO. A Temperature and Channeling Effect-Minimized Current Controlled Ring Oscillator using all MOS Devices[J]. Journal of Fuzhou University(Natural Science Edition), 2017, 45(3)
Authors:LI FANYANG and YANG TAO
Affiliation:FUZHOU UNIVERSITY,FUZHOU UNIVERSITY
Abstract:
Keywords:MOS devices   ring oscillator   temperature   channeling effect
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