用AR模型分析纱条不匀和故障识别的研究

本文在IBM PC/XT微机上,采用模型参数法和模式识别技术,进行了纱条不匀的分析和生产中故障识别的初步研究。研究表明:使用18阶的AR模型所得到的熟条功率谱曲线,能有效地反映出熟条的不匀结构。采用修正的K-L近邻法使故障识别准确率达到85％。这种模型参数法和故障识别技术对改进纺纱工艺有一定的应用价值。     

圈条卷装容量的优化计算

本文分析了在圈条筒内沿气孔周围最密圈内条子的重叠问题,导出圈条卷装容量极值计算式以确定上、下盘中心最优偏距e~*。分析结论表明,该值随圈距的变化很小,并且随条宽2r.的变化也不大;一般应取e~*/R=0.21～0.24(大圈条).或0.68～0.74(小圈条),R为条筒卷装半径。相应的气孔直径D_0为D_0/2R=0.56～0.39(大圈条)或0.36～0.48(小圈条)。     

抄针周期对纯涤纺梳棉棉结的影响研究

通过在金属针布梳棉机上专门的抄针实验,研究抄针前后不同时刻的棉结粒数的变化规律。结果表明：金属针布在纯涤纺时仍需要抄针,合理的抄针周期应为每两天一次。     

低温烧结多层片式ZnO压敏电阻内电极 Ag含量对电性能的影响

研究了低温烧成多层片式ZnO压敏电阻的内电极中Ag扩散进入ZnO晶格对电性能的影响．研究发现内电极中Ag含量严重影响低温烧结多层片式压敏电阻的电性能．当内电极含Ag量为70％时,具有最好的电性能;而内电极为纯Ag时,电性能最差,压敏电压和限制电压过分地升高,漏电流增大,非线性系数减小．反映晶界势垒电容的电容量随内电极中Ag含量的升高而减小．伏安特性和复数阻抗分析表明,随着内电极中Ag含量的升高,Ag扩散进入ZnO晶格加剧,降低了施主浓度Nd,导致ZnO晶粒电阻增大,以及晶界势垒高度和耗尽层宽度增加,使得多层片式ZnO压敏电阻的电性能变差．     

用格点法研究银或银金合金表面上氧的吸附规律

对混合式格点法作了进一步的改进，并用这一改进方法研究了氧在银或银合金表面上的吸附，结果表明：氧分子在银表面上发生吸附的阈值约为６．５ＫＪ．ｍｏｌ＾－１；氧分子动量大于４５ａｕ或合金中金的质量分数大于０．３时，都不发生分子氧的吸附，另外，处在振动激发态的氧分子比在振动基态的更容易发生吸附。     

理想纱条的数学建模

通过时纤维的线密度引入平稳过程和窗函数两个概念,提出了纤维的一种数学模型.在此基础上,对理想纱条的假设条件作了减弱,建立了一种更具普遍意义的理想纱条的数学模型.     

理想纱条的统计特性

应用文献[1]所提出的理想纱条的数学模型,对理想纱条的统计特性进行了分析,证明了理想纱条是各态历经的强平稳过程,给出了其二维概率分布以及均值、自相关函数等数字特征,建立了纱条自相关函数和纤维平均自相关积分之间的关系.     

使用林特斯利仪测定棉条纤维长度的探讨

使用林特斯利仪测定棉条纤维长度，可以获得表征纤维长度的新特征值，即棉条纤维长度指数M。M能够用于检测纤维在加工过程中的意外损伤，或者确定同样纤维长度而不同加工方法所产生的棉条纤维损伤。该方法操作简便、灵敏度高，可广泛用于工厂半制品内在质量的检验。     

熟条HVI测试性能与转杯纱强力之间关系的研究

选取30种纯棉普梳熟条,分别生产58.3tex和18.22tex转杯纱,再用多种数学方法分析熟条HVI测试性能与转杯纱强力之间的关系。结论对实际生产中的配棉、熟条生产工艺的优化以及成纱质量控制都有一定的指导意义。     

纱条不匀的功率谱分析与微机实现

本文的第一部分讨论了理想纱条与实际纱条的功率谱,不仅给出了比以往更严格的理论公式,而且通过将纱条不匀分解成几个基本平稳过程之和,讨论了实际纱条功率谱密度的典型形式。同时,还指出乌斯特波长谱与均方根谱密度属于不同的概念:前著既不表征 CV 值的波长分布,也不可与理想纱条的均方根谱密度相比。本文的第二部分提出了用十六位微处理器 Intel 8086实现纱条不匀谱分析的设想,并完成了其主要软件(包括一定点 FFT 子程序)的设计与调试。将 IBM-PC 与乌斯特传感器联机的实验结果表明,功率谱能在功能上代替乌斯特波长谱。本系统的算法简单而高效,与乌斯特仪器相比,不仅成本很低,且其功能和灵活性将更胜一筹。