Long term monitoring of urban subsidence by Permanent Scatterer DInSAR

When using differential SAR interferometry (DInSAR) to monitor the surface deformation over a long time scale, it is often strongly affected by the spatial and temporal decorrelations and atmospheric dishomogeneities. The recently developed Permanent Scatterers (PS) technique proposed by Fertti et al. can overcome these difficulties by interpreting time-series of interferometric phase only at coherent point scatterers. In this study, we apply this PS technique using 25 ERS-1/2 scenes from 1992 to 2000 to monitor the subsidence in Suzhou. By using the linear deformation model, the deformation map in Suzhou urban area over the eight years is obtained. And the calculated results are in good agreement with the measurements of leveling.     

Thermal Deformation Measurement and Stress Analysis of PQFP Assembly during Power Cycling

ＴｈｅｒｍａｌＤｅｆｏｒｍａｔｉｏｎＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔａｎｄＳｔｒｅｓｓＡｎａｌｙｓｉｓｏｆＰＱＦＰＡｓｅｍｂｌｙｄｕｒｉｎｇＰｏｗｅｒＣｙｃｌｉｎｇＤａｉＦｕｌｏｎｇ（戴福隆）,ＳｈｉＬｉｎｇ（石玲）,ＷｅｎＸｉｕｍｅｉ（温秀梅）Ｄｅｐａｒｔｍ...     

热膨胀系数测定新方法

提出了一种测量材料热膨胀系数的新方法。此方法以云纹干涉原理及微机技术为基础,使用液体恒温,在常温状态下即可高精度地测限材料的热膨胀系数ａ值。     

光致聚合材料收缩对谱面全息存储的影响

为了分析光致聚合材料记录的谱面全息图在再现过程中发生"擦除"现象,将谱面全息图看作由不同角谱的物光与参考光在光致聚合材料内形成的不同倾斜角度的光栅总和.使用二波耦合理论分析全息图像再现时,由于光致聚合材料发生形体收缩,不同倾斜程度的光栅发生不同程度的变形,产生不同程度的布拉格失配带来的衍射效率变化.理论分析表明,材料收缩越严重,全息图再现质量越差.实验证明了理论分析的正确性,并表明使用无收缩光致聚合材料可以消除这种"擦除"现象.     

三维云纹干涉法在PMMA材料特性分析中的应用

对云纹干涉法的原理、方法及实验系统进行了简要介绍,并利用三维云纹干涉仪实时测量了有机玻璃(PMMA)在三点弯曲时的三维位移场。对变形三维云纹图进行了分析,得出了三维应变分布图。     

虚拟产品开发关键技术的应用

在总结虚拟产品开发内涵的基础上，定义了与虚拟产品开发技术相关的基本概念，提出了支持虚拟产品开发的全息建模方法．将产品定义数据、环境定义数据及两者之间的作用规律建立在统一的仿真模型结构之上，能够有效地支持虚拟产品开发．通过斜盘式汽车空调压缩机动力特性仿真模型初步验证了上述理论与方法．     

Fe∶LiNbO3晶体中全息图的选择性擦除研究

研究选择性擦除的原理和方法，针对铌酸锂晶体中定影全息图和未定影全息图的特点，介绍相应的选择性擦除的原理和在物光和参考光中引入π相位差的几种方法，通过引入π相位差记录互补全息图，利用全息图及其互补全息图的非相干叠加，消除原全息图对晶体折射率的调制，从而实现对未来影全息图的选择性擦除，实验中实验了在晶体中某一数据面面内部分数据的擦除，并从理论上对实验结果进行了分析。     

减小多光束干涉影响的算法研究

该文译斐索干涉仪中的多光束干涉效应作了研究和分析，并应用移相干涉术的三步法和四步法，分析和比较了多光束干涉对干涉仪测试精度的影响。结果表明，即使２个相干表面未镀膜或反射率很低时，这种影响仍是不可忽视的，但只要选择合适的移相算法，便可有效地加以抑制。     

全息合束器消闪烁及光线追迹的简化

论述了全息合束器的闪烁及其产生原因。讨论了全息光栅光线追迹的两种方法，指出当光栅条纹平行于表面时，这两种光线追迹的结果是一致的，并且可简化为；