使用可视化编程语言实现EMS 测试的闭环控制

针对人类生活空间电磁环境的日益恶化, 人们对电磁兼容性自动检测有着迫切要求等问题, 介绍了在VB 环境下GTEMC ( 吉兆赫横电磁波小室) EMS 闭环自动测试系统的设计原理及具体的实现方法.     

吉赫兹横电磁波传输室内导体侧边形状的研究

GTEMCell可以用较小的输入功率在内部建立均匀的电磁场 ,是理想的电磁兼容测试设备。为便于加工 ,以往的GTEMCell过渡接头中的斧形过渡块均采用近似设计 ,即在其宽度方向上采取直线过渡。这样做的结果是特性阻抗在GTEMCell过渡段的分布不理想 ,与标称值50Ω相差较大 ,妨碍了GTEMCell内行波状态的建议 ,降低了GTEMCell应有的良好性能。为对其进行修正 ,该文首次给出了精确的斧形过渡块侧边的连续曲线方程 ,对连续曲线方程进行了求解 ,并对曲线进行了描绘和比较。     

混响室和GTEM室中单极子感应电流相关性仿真

为了研究混响室和GTEM室电磁辐射敏感度测试的相关性,采用电磁仿真软件FEKO分别建立混响室和GTEM室的物理模型,在混响室和GTEM室共同的工作频带(80 MHz~1 GHz范围)内选取8个频点(80,150,200,300,400,500,600,700 MHz),在每个频点,对放入混响室和GTEM室的电小尺寸单极子天线上的感应电流和其所在位置的电场强度分别进行计算,对计算所得数据进行统计分析,结果表明:混响室和GTEM室中单极子归一化感应电流最大值的相关性最好,平均值的相关性次之,最小值的相关性最差。     

强电磁脉冲环境的模拟

基于一套由脉冲电压发生器和GTEM室组成的装置，对LEMP和NEMP进行了模拟，选择了适当的测量方法对这2种强电磁脉冲分别进行了采集。结果表明通过高速模拟装置的参数，既可以模拟LEMP环境，又可以模拟NEMP环境，并且在GTEM室内一定区域能产生相对均匀的电磁脉冲场环境，可以用于敏感器件的电磁敏感度实验。     

GTEM室中射频连续波对某数字电路的辐照效应

在GTEM室中用射频连续波对某导弹装备上的数字控制电路进行电磁辐照.在一定的场强下,引入的电磁骚扰未导致被监测的与非门产生错误反转时,产生控制信号的自激多谐振荡器却受到了电磁干扰,主要表现为产生的方波控制信号的占空比增大.分别研究了谐波波源频率在80,100,300 MHz和1 GHz时电路受干扰的情况,发现:多谐振荡器对频率为100MHz的连续波干扰最敏感,对80,300 MHz的干扰比较敏感,而对1 GHz的连续波干扰不敏感.在每个频点,对方波控制信号的占空比随场强的变化进行了相关性拟合,并建立了数学模型.     

GTEMcell非正交坐标系下的时域有限差分法分析

ＧＴＥＭｃｅｌｌ可以克服传统ＴＥＭｃｅｌｌ（横电磁波传输室）可用上限工作频率的缺点，因而得到广泛应用。     

吉赫横电磁波室的结构设计

本介绍吉赫横电磁波室（ＧＴＥＭ ｃｅｌｌ）结构工程设计的关键问题以及为确保其性能所必需的工艺要点，给出了变张角ＧＴＥＭ ｃｅｌｌ性能实测结果。     

GTEM小室交叉极化特性及三维场均匀性FDTD分析

采用时域有限差分法评价了1 GHz以内吉赫兹横电磁波(GTEM)小室的交叉极化特性和三维场均匀性.根据IEC 61000-4-20标准,采用9点网格法分别对测试区的1/3和1/2内导体高度区的场分布特性进行了宽频带分析,并以测试区中心截面的名义场强为参考评估了沿纵向的场均匀性.计算结果表明:在1/3内导体高度区,三维场均匀性满足6 dB限制,但工作频率超过一定频带后,交叉极化分量满足小于主分量6 dB要求较为困难;随频率和测试区的增大,交叉极化特性和场均匀性下降,但较易满足放松要求.经实验证实计算结果准确可靠.     

基于FDTD对GHZ横电磁波室工作区的场强仿真

在GHz横电磁波室内进行辐射实验时,由于电磁波在室内传播会发生反射、绕射、散射、吸收等现象,导致了很难精确地分析GHz横电磁波室内的场强。以放置在GHz横电磁波室小工作区内的玻璃箱为研究对象,利用AutoCAD 2008建立三维模型,导入基于FDTD(时域有限差分法)的XFDTD软件进行仿真,得到玻璃箱的场强分布。最后通过对比分析仿真数据与实际测量数据,证明了玻璃箱内的场强在1.8GHz、140dBμV/m的条件下是均匀电磁场,而且不均匀性不超过±2dB,达到了生物医学实验的要求。该仿真为高精度、高速度地计算室内复杂的电磁场问题提供了一种新的方法。     

机箱屏蔽设计和屏蔽效果测量

分析了机箱产生电磁泄漏的机理,介绍了机箱电磁屏蔽的设计方法和利用GHz横电磁波室(GTEM Cell)测量机箱屏蔽效果的方法.在GTEM Cell内对采取不同屏蔽措施机箱的屏蔽效果进行了测量,给出了定量的数据.为提高机箱的屏蔽性能,提供了理论依据和实验数据.