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FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用 总被引:7,自引:0,他引:7
在不考虑冒险的情况下,对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性,定义了三种不同的D前沿,并将测试产生分为激活故障,使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化,减少旁路的影响三个部分,实验结果说明,在不考虑冒险的情况下,将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的。 相似文献
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