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电子顺磁共振谱(electron paramagnetic resonance,EPR)参量对杂质离子局域结构极为敏感,对EPR参量的理论研究可以用来确定材料的离子占位和缺陷结构等.从晶体场理论出发,用高阶微扰公式和晶体结构数据和重叠模型获得晶场参量,计算出Cr3+离子在八面体晶体SrLaAIO4中的的自旋哈密顿参量g因子和零场分裂参量D,计算中所用到的参量由该晶体的光谱和结构数据获得,计算结果和实验数据较为符合,并对计算结果进行了分析. 相似文献
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晶体场理论中的三种耦合图象 总被引：3，自引：0，他引：3
分析了晶体场理论中的三种耦合图象，即：强场耦合图象、弱场耦合图象、中间场耦合图象；介绍了三种图象中基函的构造方法，利用Ｒａｃａｈ不可约张量算符技术及Ｗｉｎｇｅｒ定理表述了弱场与中间场图象，对三种图象进行了比较，并讨论了它们之间的关系。 相似文献
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研究了AlCl3·6H2O晶体中Cr3+离子的ESR光谱.计算结果(D=-0.032 64cm-1,g=1.970 9和△g=-0.00027)和实验值(D=-0.032 7(1)cm-1,g=1.977(1))符合得很好.还讨论了AlCl3·6H2O晶体中杂质Cr3+离子的局部结构. 相似文献
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