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1.
On the basis of software testing tools we developed for progrmnming languages, we firstly present a new control flowgraph model based on block. In view of the notion of block, we extend the traditional program-based software test data adequacy measurement criteria, and empirically analyze the subsume relation between these measurement criteria. Then, we define four test complexity metrics based on block. They are J-complexity 0; J-complexity 1 ; J-complexity 1 ; J-complexity 2. Finally, we show the Kiviat diagram that makes software quality visible. 相似文献
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宋国新 《华东理工大学学报(自然科学版)》1990,(5)
提出了生成测试数据的结构归纳法,并举例说明如何运用结构归纳法产生程序的测试数据,以利于程序员有规则地产生测试数据。它对提高测试效率,改善软件产品的可靠性有促进作用。 相似文献
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针对测试数据自动生成完全依赖约束集求解问题(Constraint Solving Problem,CSP)进行求解会导致耗时较大甚至求解不出最终测试用例,以及采用动态GA算法又无法确定变量的最初论域空阃,首次将基于CSP求解与GA的动态算法进行了有机结合,摒弃了二者固有的缺陷,吸取了静态算法对变量论域空间削减速度快的优点。采用eBox区间相容削减标准,过滤变量的论域空间,并在经过削减的空间上采用GA搜索算法自动产生测试数据,应用常变量的逆向推导技术、表达式直接遗传等技术,大幅度地提高了测试数据的生成速度。 相似文献
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遗传算法作为现在启发式搜索算法的理论和实验基础,在测试数据生成方面显示出较大的优越性。由于适应度函数设计是应用遗传算法进行测试数据生成的效率的关键,因此本文综合考虑现有适应度设计的因素,设计出一种新的基于遗传算法的多路径算法。该方法是首先设计一种衡量两条路径相似度的算法,然后在此基础上设计了一个针对多路径的算法。通过与现有方法的生成效率进行比较发现:对于基于遗传算法的测试数据生成问题,该方法的测试生成效率有较大提高。 相似文献
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1.研究目的
通过对当前学生体质状况作出宏观的掌握,从而对国家学生体质健康标准的实施现状作出判断,发现成功的经验与在实施过程中遇到的问题与难点,对标准的进一步实施提出对策提供科学的依据。2.研究方法2.1数据分析法根据本次调查收集上来的2007年、2008年江苏省《国家学生体质健康标准》测试数据、2009年湖北黄石二中学生体质健康数据、2010年苏州市普通高中高三学生身体素质抽测结果、江苏省部分高校2009级新生身体素质测试结果、张家港市2007、2008、2009年《国家学生体质健康标准》统计表、2009年南京九中体质健康测试数据、 相似文献
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尽管并行软件测试已经得到软件工程界的广泛关注,但是,如何高效生成覆盖并行软件多条路径的测试数据,相关的研究还比较少。本文研究消息传递并行程序多路径覆盖测试数据生成问题,并提出基于分组的测试数据进化生成方法。首先根据并行程序包含的进程数、可用的计算资源以及路径相似度,将目标路径分成若干组,并基于每组目标路径,建立多路径覆盖测试数据生成问题的数学模型;然后采用多种群并行遗传算法求解上述模型,使得一次运行遗传算法,生成覆盖所有目标路径的测试数据。性能分析表明,所提出的目标路径分组方法不但能够保证不同组包含的目标路径相差很少,而且同一组的目标路径之间具有很大的相似度。将所提方法应用于4个基准程序的测试中,并与已有方法比较,结果表明,所提方法在保证路径覆盖率的前提下,可大大缩减个体评价次数和耗时。 相似文献
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针对集成电路所需测试数据量庞大、测试成本过高的问题,该文提出了最小游程切换点标记编码压缩方法,将原始测试数据压缩,达到减少测试成本的目的。该方法将测试集按若干向量分组编码,利用组内向量游程切换范围的重叠关系合并游程切换点,可以将组内所有测试向量的游程位置用一个向量表示出来,突破了传统编码压缩要用编码字后缀表示游程长度的限制,相较于传统编码压缩,极大地缩短了编码字。该方法解压规则简单,硬件开销小, ISCAS 89标准电路实验结果表明:该方案压缩效果优于其他几类编码压缩方案,可为测试数据量过大提供有效解决方法。 相似文献
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通过减少测试数据来减少测试成本是集成电路测试领域的热点之一。文章综述了测试数据减少技术,分析了每一种技术的优缺点,指出了该技术的发展需求和方向。 相似文献