非线性随机规划问题最优值与最优解的可测性

利用对偶理论与可测集值映射理论等,本文首次证明了一般非线性随机规划问题最优值和最优解的可测性,从而为研究它们的概率分布、矩等分布问题以及一般随机规划问题的实际求解奠定了理论基础.     

关于Lebesgue可则性的映射不变性

讨论了在映射Ｔ：Ｒ＾ｎ→Ｒ＾ｍ下，点集Ｔ（Ａ）包含Ｒ＾ｍ与Ｔ＾－１（Ｂ）包含Ｒ＾ｎ的可测性，研究了映射Ｔ的保零测性与保可测性的条件。     

基于灵敏度的模拟电路测试参数分析

介绍了一种提取电路最佳可测性参数集以诊断电路故障的新方法。利用灵敏度法分析了电路中故障元件和可测性参数之间的关系,推导出由电路可测性参数表示的故障元件容差最大值和最小值的表示式,得到诊断故障元件的最佳可测性参数,最后利用数据优化算法得到电路故障诊断的最佳可测性参数集。利用所介绍方法分析了一个低通滤波器电路,得到诊断该电路故障的最佳参数集。由于只需较少的可测性参数即可完成电路的故障诊断,因此本方法不仅计算简单,而且可有效地缩短测试时间和降低测试成本。     

“智慧城市”建设还缺什么?

通过借用詹姆斯·格雷的五个关键性指标来做分析，我们发现我国智慧城市建设还缺少可测性和渐进性，“智慧城市”建设还任重道远。     

乘积测度的表示与集的截口的测度的可测性

设T,X是完备可分的度量空间,T×X是乘积空间.设ν是T上的完备的Borel概率测度,τ是X上的预测度.从ν和τ出发,可以通过两种不同方式定义乘积空间T×X上的测度.证明在τ是σ-有限的情形下,这两种方式定义的测度都等于T×X上的乘积测度ν×τ*,其中τ*表示由τ按方法Ⅰ所构造的外测度;在τ是非σ-有限时,证明了在一定的条件下函数τ(Et)与τ*(Et)都是T上的可测函数,其中E T×X,Et={x∈X;(t,x)∈E}.     

分支结构电路的可测性设计优化

在硬件设计的初期可以对硬件测试中条件分支结构引起的测试向量冗余问题加以解决.以ALU为例,提出了两种分支结构电路的可测性优化设计,通过调整分支电路的选择条件来控制测试向量的施加,在保证错误覆盖率的同时可以明显减少不必要的测试向量.     

基于BIST的板级数模混合电路的可测性研究

本文通过对电路板可测性设计技术的广泛研究,提出基于板级BIST技术的可测性设计方法,在此基础上设计和研制了具有可测性的板级数模混合电路验证样机。该样机采用分块监测,逐级诊断的故障诊断策略,采用模块和元件两级故障定位方法,验证平台的测试实验表明分级监测的可行性,指明了可测性设计和内建自测试技术的研究新思路。     

基于方位FNCS的斜视TOPS SAR成像方法

针对斜视循序扫描地形观测（terrain observation by progressive scans, TOPS）合成孔径雷达（synthetic aperture radar, SAR）模式,提出了一种新的全孔径成像处理方法。首先对距离走动校正后的数据进行方位预处理得到无模糊的二维频谱,在此基础上采用修正的线频调变标算法完成距离脉压及距离徙动校正;然后在距离多普勒域进行频域非线性变标（frequency nonlinear chirp scaling, FNCS）以校正调频率的空变性,并结合谱分析（spectral analysis, SPECAN）技术将信号聚焦在方位频率域,最后校正几何形变。仿真和实测数据处理结果验证了算法的有效性。     

大规模集成电路测试技术

本文主要介绍了在大规模集成电路中,必须考虑的电路测试技术的一些设计方法,同时论述了对集成电路芯片功能测试的实现以及用计算机系统对芯片测试的方法。     

一类非局部发展问题解的存在性

考虑非局部发展问题。首先对主算子为紧半群无穷小生成元，在较弱的假设条件下，证明温和解是存在的。同时研究主算子为解析半群时温和解的正则性问题，进而对主算子为解析紧半群问题给出一个有用的结果。最后，以一个例子展示理论结果的应用。