确定系统级测试性参数的广义随机Petri网模型

测试性设计是近年来发展起来的一门新兴学科 ,对提高复杂系统的可靠性、可维修性和可用性具有重要的意义。在测试性设计的过程中 ,合理地选择和确定测试性参数是实现费效比最优设计的关键之一 ,但目前还没有有效的方法能合理地确定每个参数的门限值或目标值。基于广义随机Petri网的原理 ,将测试看作设备整个生命周期内可靠性、维修性活动的一个有机组成部分 ,建立了系统的测试性模型。采用数值分析的方法得出系统稳态可用度与系统测试性参数之间的关系曲线 ,作为确定测试性参数的依据 ;当系统需待定的参数比较多时 ,将模型转化为一个区间线性方程 ,有效地解决了计算量大的问题。这一方法对解决复杂系统的测试性设计问题具有一定的借鉴意义     

An Approach to the Fault Diagnosis and Testability in Analog Circuits at Module Level

ＡｎＡｐｐｒｏａｃｈｔｏｔｈｅＦａｕｌｔＤｉａｇｎｏｓｉｓａｎｄＴｅｓｔａｂｉｌｉｔｙｉｎＡｎａｌｏｇＣｉｒｃｕｉｔｓａｔＭｏｄｕｌｅＬｅｖｅｌＹａｎｇＪｉａｗｅｉ（ＢｅｉｊｉｎｇＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＲｅｍｏｔｅＳｅｎｓｉｎｇＥｑｕｉｐｍｅｎｔ，Ｂ...     

The logic of experimental tests,particularly of Everettian quantum theory

Claims that the standard procedure for testing scientific theories is inapplicable to Everettian quantum theory, and hence that the theory is untestable, are due to misconceptions about probability and about the logic of experimental testing. Refuting those claims by correcting those misconceptions leads to an improved theory of scientific methodology (based on Popper׳s) and testing, which allows various simplifications, notably the elimination of everything probabilistic from the methodology (‘Bayesian’ credences) and from fundamental physics (stochastic processes).     

测试性验证中抽样方案的精确算法

在测试性验证中首选的二项分布是离散取值的 ,由于计算困难 ,确定抽样方案通常采用一些变通的方法。通过对二项分布函数的研究 ,证明它是关于概率 p和试验中允许失败次数 r的单调增函数 ,是关于试验次数 n的单调减函数。根据这些结论 ,提出了求解二项分布的联立不等式的精确算法 ,在可能的求解区域采用多变量折半搜索的算法 ,确定联立不等式的最优解 ,从而可以快速准确地获得测试性验证的抽样方案。最后 ,将计算结果与 IEC1 1 2 3作了比较 ,证明了此算法的正确性。     

复杂装备测试性指标分配算法研究与设计

为解决测试性指标在工程应用中的分配问题,提出了一种加权矩阵综合分配算法,该算法采用矩阵形式设计,对影响测试性指标的各种因素进行权重量化;并对各项权重系数进行综合推演和闭合性验证。建立了该算法的数学模型,设计了基于该算法的测试性指标分配流程。通过工程案例,对测试性指标分配算法、流程和闭合性验证进行了实例解析。结果表明,该算法是一种经过实际工程检验的、有效的测试性指标分配算法。     

电网络的支路集可测性理论——(Ⅰ)单激励情况

本文从支路集可测性的概念出发,讨论了电网络的多故障诊断问题,并给出了电网络支路集可测的几个充要条件(其中包括拓扑条件)。然后,讨论了支路集可测性与模块级故障可测性的关系,其结论对大规模网络的故障诊断是很重要的。研究结果表明,尽管实际电网络通常无法做到所有k支路集可测,但对某些多故障,却完全可以唯一地定位。     

多芯片组件(MCM)的可测性设计

为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计．根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对MCM进行全面测试．建立模型进行验证的结果表明：该方法能有效地测试MCM,缩短了测试时间,故障覆盖率达到95％以上．     

线性电路的K故障定位理论

K故障定位法是模拟电路故障诊断中最重要的方法之一,近年来发展迅速,十分引人注目。本文全面系统地研究了K故障定位理论。文中给出了K故障定位技术的分类方法,介绍了各种定位技术,指出了它们之间的一些重要关系,还讨论了可测性设计问题。