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高玉民 《西安理工大学学报》1994,10(3):190-195,214
本文从物理概念出发,推导出载流子在集电结空间电街区发生碰撞电离时基极开路晶体管电流的表达式,并由此得到晶体管的雪崩击穿条件及pn结二极管的雪崩击穿条件。根据数值计算结果找到了快速、精确计算基极开路晶体管击穿电压的经验公式。 相似文献
2.
高玉民 《西安理工大学学报》1992,(3)
本文推导出外延层穿通击穿情况下均匀掺杂外延层电阻率和厚度的关系式,及使外延层理想比电阻ρW取最小值时电阻率和厚度的精确表达式。从比导通电阻最小的要求考虑,提出了优选外延层参数的方法,计算结果表明,此法优于传统方法和C.Hu方法,可使VDMOSFET的比导通电阻达到最小值。 相似文献
3.
灌注桩基础钻进施工中的几个问题 总被引:1,自引:1,他引:0
高玉民 《哈尔滨商业大学学报(自然科学版)》1999,(4)
灌注桩基础施工中一些新工艺、新方法,在规范中没有规定,这里从几个方面加以总结,使之规范化。 相似文献
4.
高玉民 《西安交通大学学报》1996,30(10):30-36
提出了一种确定穿通型二极管轻掺杂区一系列参数的方法,在大量数值计算基础上,获得了有效率电离率系数随硅单边穿变结轻掺杂区材料导电类型和电阻率变化的经验公式,把这种解析方法与有效电离率参变量相结合所得结果大电压范围内与数值计算结果符合得相当好。 相似文献
5.
分析和讨论了圆弧形掩膜的曲率半径对平面结终端耐压特点的影响.首次通过解析的方法,推导出了在计及平面结横向曲率效应,即准三维效应的条件下,优化单场限环结构击穿电压的归一化表达式,以及场限环间距的优化公式.本方法简便直观,可以直接用于场限环结构的优化设计. 相似文献
6.
高玉民 《西安理工大学学报》1995,11(1):38-43
在有效碰撞电离率近似下,出给定正向阻断电压和电流放大系数的AS-CR长基区参数满足的关系式。数值计算结果表明,把此关系与有效碰撞电离率系数和雪倍增因子参数的经验公式相结合,是一种快速、精确设计ASCR正向阻断电压的方法。 相似文献
7.
文章讨论了内场限环结构LDMOST的参数优化和器件耐压问题,采用直接积分的方法推导出内场限环表面掺杂浓度的精确优化公式.同时,对LDMOST的优化结构开展了耐压分析.与国外同类工作比较,此方法简便直观,计算结果与二维数值模拟结果符合得较好. 相似文献
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