快D_2~+、DH~+和H_2~+通过碳膜的透射和电荷交换的研究

本文介绍了测量Mev量级单电子双原子分子离子(D_2~+、DH~+、H_2~+等)通过碳膜的透射和在碳膜中的电子损失截面、电了俘获截面的实验方法和新近的实验结果。略述了我们把Brandt-Sizmann理论扩展到D_2~+、DH~+、H_2~+与固体碳相互作用的计算。本文还得到D_2~+、DH~+、H_2~+的裸核集团在膜的出口俘获一个电子后形成电缚分子态的几率。     

快H_2~ 和H~ 离子通过碳膜产生H~-及其产额的测量

本文描述了H~-离子的测量方法,给出了每个核子0.4、0.8Mev的H_2~ 和H~ 离子通过各种超薄碳膜之后的负氢离子产额测量结果,并对结果进行了讨论。     

快H_2~ 通过碳膜的透射率测量

本文简要介绍了快分子离子H_2~ 通过碳膜的作用过程.叙述了实验装置及H_2~ 透射率的测量方法;给出H_2~ 在0.827MeV和1.61MeV两种能量下,碳膜厚度为5.59—10.4μg/cm~2的两条透射率测量曲线,并对结果作了初步讨论.     

一种水泥生料配料多元素在线分析仪的研究

报道了一种高分辨分多元素水泥生料配料在线分析仪的结果，原理和性能，并给出了精度，稳定性和准确度测量的结果。     

快D_2~ 和H_2~ 分子离子在碳膜中产生D~-和H~-负离子的产额测量

本文报告了几组Mev量级的D_2~ 、D~ 、H_2~ 和H~ 离子穿过各种厚度的自支撑薄碳膜产生D~-和H~-离子的产额测量结果。结果表明,负离子产额与入射离子的速度有关;在同一能量下D~ 和H~ 离子的负离子产额都与靶厚度无关。证实了快离子在固体中的电子俘获事件是在固体的后表面内发生的假设。在不同能量下,负离子产额不同,证实了电子俘获截面随入射粒子速度的增加而减小的结论。从分子离子在固体中的负离子产额随停留时间t_D的变化可以看出分子团效应的影响。     

交叉电子束引起快H_2~ 的崩裂

近年,一些国家开展的快分子离子与固体膜相互作用的实验,不仅对研究固体中的原子碰撞提出了很多有吸引力的课题,而且提出了一种新颖的甚至是唯一的测定分子离子立体化学结构的方法.D.S.Gemmel等人已成功地测定了一些简单分子离子的立体化学结构。但是,当快分子离子通过固体膜时,除库仑爆炸外,还有电子损失、俘获、能损、能损岐离、多次散射、尾流效应等物理过程发生.虽然,分子离子的能量提高到Mev     

D_3~+和H_3~+立体化学结构的测量

我们用高分辨技术,通过快分子离子在超薄固体膜中的库仑爆炸,测量0°方向出射产物的能谱,实测了H_3~+和D_3~+的立体化学结构.H_3~+和D_3~+是两个最简单的稳定的多原子分子离子.对H_3~+结构和性质的研究,不单对原子分子物理学科有重要的理论和实用价值,而且对剖析基元化学反应机理、阐明     

1.7MeVH_2~+在碳膜中的库仑爆炸

本文描述了我们对1.7MeV H_2~+轰击5μg/cm~2碳膜,在0°方向出射H~+的能谱测量。再次直接证明了快分子离子通过固体时,库仑爆炸和尾流效应的存在。     

快H_2~ 与薄碳膜相互作用的各种产物测量

一、前言快分子离子与固体相互作用的实验和理论研究,是近七、八年间才在美、法等国发展起来的新领域.至今,大多数研究涉及到原子分子物理和固体物理的很多方面.通过这些研究,不仅仅大大加深了人们对带电粒子通过固体介质所受电磁场的认识,而且把从前由阻止本领所得的知识补充得更加详尽。值得提出的是:用快分子离子通过固体膜的库仑爆炸测其产物能谱和角分布的方     

用正比计数器探测低号元素K系谱线的研究

作者通过理论计算和实验分析，对正比计数器探测效率和能量分辨研究的结果表明，在一定的物理条件下，可采用薄铍窗正比计数器，探测Ａｌ，Ｓｉ和Ｓ等工业生产中常见低号元素的Ｋ系谱线的可行性，并以此为基础成功地研制了一种水泥多元素Ｘ射线萤光分析仪，经实际生产应用，取得了良好的社会经济效益。