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在内建自测试的基本原理上实现了一种有效地适用于16位定点DSP的BIST设计方案,包括内部逻辑的BIST设计和Memory的BIST设计;通过与IEEE 1149.1兼容的边界扫描技术来对BIST实现控制,并提供电路板级的测试.测试结果证明,该设计的故障覆盖率达到了98%以上,确保了DSP芯片的品质. 相似文献
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为了解决存储单元的亚阈值泄漏电流问题,分析了在深亚微米下静态随机存储器(SRAM)6-T存储单元静态功耗产生的原因,提出了一种可以有效减小SRAM静态功耗浮动电源线的结构,并分析在此结构下最小与最优的单元数据保持电压;最后设计出SRAM的一款适用于此结构的高速低功耗灵敏放大器电路.仿真测试表明,使用浮动结构的SRAM的静态功耗较正常结构SRAM的静态功耗大大减小. 相似文献
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