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以电子产品生产过程为代表的现代高质量过程,使得属性数据的控制图扩充到以几何分布为基础的累积合格品数控制图、累积合格品数-r控制图和连续合格品数累积和控制图.考虑具有模糊质检状态的接近模糊零不合格过程,在接受抽样下利用DUNCAN提出的卡方控制图给出相应的统计结果. 相似文献
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