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采用三维环形旋转探针对离子束进行扫描,可以探测到2个束流截面的大小和位置;还可以由二截面参数的比较估算出附近的聚集梯度。该装置能够比较全面地反映束流的特性。 相似文献
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采用不同注量和注入顺序的MeV能量的P~+(3MeV,1×10~(14)~3×10~(14)cm~(-2))与MeV能量的Si~+(3MeV,1×10~(14)cm~(-2))共注入于SI-LEC GaAs晶体中。对不同退火条件的共注入样品的有源层电特性、载流子浓度分布、晶格的损伤和恢复状况以及剩余缺陷等进行了分析。研究表明,较大注量的P~+与Si~+共注入,可以降低注区薄层电阻,有效地提高MeV Si~+的激活效率,改善有源层迁移率,得到高品质的n~+埋层。共注入样品的HALL迁移率大于2400cm~2/(V·s),激活率可达95%以上。 相似文献
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报导 MeV 硅离子注入半绝缘 GaAs 的快退火行为,根据缺陷作用原理分析了硅的不均匀激活和载流子分布特征.指出应按载流子浓度、迁移率、埋层电阻和击穿等特性综合评价深埋层和近表面层的品质,优化注入和退火参数. 相似文献
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通过电离表面的痕量分析和Cs~+离子产额的测量,研究了功函数、表面温度及铯通量等因素对铯溅射型负离子源表面电离效率的影响.结合Langmuir-Saha表面电离理论,揭示Cs~+离子产额饱和的原因.提出一项改进措施──透射型表面电离源,就其性能进行了讨论. 相似文献
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利用白光快速退火设备研究了白光退火特性,得到As通过siO_2注入Si制备0.1~0.15μm无缺陷浅结的最佳条件.发现As通过SiO_2注入的样品退火后其载流子浓度分布出现双峰现象,进而提出了分析这种现象的增强扩散模型.还发现B+As双注入的样品经瞬态退火后消除了减速场. 相似文献
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用Mev的硅、氧离子注入SI-GaAs形成了相互隔离的N-SI-N双导电层结构.6 MeV的Si离子注入半绝缘的GaAs,在950℃5s条件下进行快速退火,可以得到最佳电特性,在表面下2.8μm深处形成n~+深埋层.采用双能量的硅离子注入半绝缘GaAs:6 MeV(1×10~(14)cm~(-2))+80 key(5×10~(13)cm~(-2)),在950℃5s退火,然后用1.2MeV的氧离子注入该样品,注量为10~(10)~10~(11)cm~(-2)时,形成了上、下相互隔离的双导电层,隔离击穿电压为10~20V,该结构在600℃以下是稳定的. 相似文献
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