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提出了纯金属电阻率的两个简化模型:一个统计模型,一个电子一声子耦合模型。由统计模型可得出:纯金属电阻率与声子浓度及声子平均动量的平方成正比。由电子-声子耦合模型得出:电子的散射几率不仅正比于声子数,而且正比于电子-声子的耦合强度。由这两个模型皆能得出纯金属电阻率在高温时与温度T成正比,低温时与T5成正比的结果。由电阻率—温度曲线的比较表明,两模型相当吻合。 相似文献
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