集成电路故障测试研究

基于固定型故障模型的传统电压测试技术是一种应用最广、最为重要的测试技术,且已经应用多年。但是随着集成电路日新月异地发展,电压测试技术越来越不能完全满足高性能IC,特别是高性能数字CMOSIC发展的需求。为了提高故障覆盖率和降低测试成本,本文探讨了一些方法的可行性。