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多芯片组件(MCM)的可测性设计 总被引：1，自引：0，他引：1
为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计．根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对MCM进行全面测试．建立模型进行验证的结果表明：该方法能有效地测试MCM,缩短了测试时间,故障覆盖率达到95％以上． 相似文献
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