正电子湮没技术对YAG/Nd晶体缺陷的研究

用正电子湮没技术对YAG/Nd晶体不同位置进行了探测。实验结果表明,YAG/Nd晶体的不均匀性、缺陷的分布以及退火处理后晶体缺陷减少的情况与正电子寿命,多普勒增宽线形参数有对应关系。紫外光谱分析说明,YAG/Nd晶体中缺陷捕获态主要与色心有关。     

20SiMnV钢疲劳过程的残余应力和正电子寿命谱研究

本文测定了20SiMnV钢经疲劳后的正电子寿命谱和宏观残余力,观察了疲劳断口、表面滑移带和沿试样层深位错结构的变化。结果表明:随着循环周次的增加,正电子湮没寿命和强度呈周期性变化,宏观残余应力时增时减。正电子湮没参数的周期性,与点阵畸变和晶体缺陷的周期性变化有关。滑移过程的不断进行,使试样表面残余应力的积蓄和释放交迭进行,故宏观残余应力时增时减。随着层深的增加,位错密度减少,与塑性形变沿层深减少相对应。     

45钢热处理的正电子寿命谱分析

我们测定了45钢从820℃淬火后分别在200℃、400℃、600℃回火及加热到740℃的正电子寿命谱;测定了经上述处理的试样的硬度和微观应力。结果表明,对于淬火试样,τ_1和τ_2的数值比较接近。随着回火温度的增加,τ_1减少I_1增加,τ_2增加I_2减少。这与位错密度和点阵静畸变减少、空位集中形成空位团相关。硬度和微观应力与正电子寿命τ_1之间有一定的对应关系。