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8-mol%钇稳定氧化锆放电等离子烧结体的电学特性研究 总被引：3，自引：0，他引：3
采用等离子烧结技术, 在1350℃10 min所烧结的8-mol%钇稳氧化锆样品(SPS)与常规1450℃4 h烧结样品(CS)相比, SPS样品致密度已达到99％. 通过X射线衍射(XRD)对两种样品分析其结构均为立方体(Fm3m), 根据XRD谱(111)峰算得SPS样品的晶粒大小D111为154 nm, CS样品的D111大于1 μm. 用ZVIEW软件对不同测试温度下所得交流阻抗测试结果进行了拟合处理, 研究结果表明: SPS样品的离子电导率不同于CS样品; 在400～800℃温度范围内, 放电等离子烧结样品的活化能为91 kJ·mol−1, 与常规烧结样品的96 kJ·mol−1相一致, 这说明SPS烧结体的导电机理与常规烧结体基本一致. 相似文献
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