基于机内测试( BIT) 的LCC 模型改进

在分析原寿命周期费用（LCC）模型的基础上，给出了一种将机内测试（BIT）结合到电子系统LCC中的方法；推导了改进的LCC费用模型。该模型反映了采用BIT带来的益处，减少了维修时间、外部测试设备、备件等的需求量、以及对人员技术水平和预防性维修的要求。在改进的LCC模型中考虑了如下设计因素：诊断差错、诊断不明、未检测故障、BIT硬件故障和虚警等。