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时序电路的测试生成非常复杂.时序电路的可测性设计对于指导电路设计及测试生成是十分重要的.基于对在测试生成过程中的难测故障进行冲突分析,提出了一种新的评价电路可测性的测度conflict+,并在此基础上提出了一种两阶段的非扫描可测性设计方法.这种新的测度可以体现出时序ATPG中的绝大部分特征.运用该方法对一些实验电路进行可测性设计后,结果表明比近期的两种非扫描可测性设计方法nscan和lcdft在故障覆盖率、测试效率等方面都取得了更好的效果. 相似文献
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研究表明,服务器软件如果长时间运行则会产生软件老化现象。导致计算机系统失效。为了解决这一问题,首先需要做软件老化的实验,这就涉及到实验程序的设计。本文以Apache服务器为例,给出了软件老化现象实验的程序设计图及源代码。 相似文献
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