排序方式: 共有1条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
随着信息技术的发展,设计越来越复杂,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,由于本身单元密度很高,嵌入式存储器容易造成硅片缺陷,降低了芯片的成品率.针对投影仪梯形校正项目嵌入的存储器模块存在的故障等问题,讨论了基于MarchC+算法的BIST的设计与实现,并对BIST进行改进,完成对存储器故障的检测和定位,整个测试故障覆盖率接近100%、测试时间为35.546ms. 相似文献
1