能量色散X射线荧光光谱法分析金矿中的汞

为了快速筛查针对金矿开采中Hg污染的情况,试验了能量色散X射线荧光光谱(energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer,EDXRF)法直接测定Hg含量技术。对基于SDD探测器的便携式X-荧光(X-roy ftuorescence,XRF)分析仪,探测器分辨率为130eV@5.9keV,Rh靶X光管的管电压为40 kV、电流10μA的条件下对金矿样品进行测量。排除其他元素对Hg的谱线干扰,选取HgLα运用净峰面积法以金矿生产样品建立工作曲线,相关系数为0.985 1。实验表明,EDXRF法测定Hg,精密度高,平均偏差为9.0%,相对标准偏差(relative standard deviation, RSD)(n=10)小于1.3%,具有分析灵敏度高、样品制备过程简单、无损分析等优点,可用于金矿中Hg元素的快速检测。