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本文研究了锑在玻碳金膜电极上的电位溶出分析法。在1.2M HCl介质中,于—0.015V(vs·Ag/AgCl)附近有一锑的良好溶出波;通过一系列的条件试验找到了的一选择性较好的测定微量锑的分析方法,溶出时间与5.0×10~(-7)M到10~(-5)M(或更高浓度范围内)的锑波度有良好的线性关系,检出下限为1.0×10~(-7)M。此外还讨论了各种因素对灵敏度的影响以及本方法在实际应用中的优越性。 相似文献
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本文对电位溶出分析法理论进行探索,提出与前人不同的观点.考察了溶出形式(搅拌溶出和静止溶出)对溶出时间方程式的影响,得到了一般化的溶出时间方程式.认为电位溶出过程是由金属原子与氧化剂分别在汞膜和溶液中同时向电极/溶液界面的扩散共同控制.作者认为常数k的物理意义是氧化剂的传质系数,其表达式与溶出形式有关. 相似文献
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