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本文主要介绍了故障注入与故障诊断在集成电路设计上的应用以及故障注入及故障诊断对于集成电路容错性和测试性设计的意义,将集成电路的测试性设计方法———边界扫描技术与故障注入和故障诊断的方法相结合,讲述了边界扫描、故障注入及故障诊断技术的电路原理。对电路系统测试性辅助设计进行了归纳和总结。 相似文献
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谢原 《科技情报开发与经济》2007,17(33):27-28
分析了高校图书馆和院系资料室的特点和存在的问题,就高校图书馆和院系资料室如何进行资源共建共享提出了一种新的操作模式。 相似文献
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