压力对NaAlSi3O8熔体结构影响的实验研究

通过对NaAlSi3O8熔体的玻璃进行Raman光谱研究,发现随着压力升高（10^5Pa-2.0GPa),（1）低频区（50－650cm^-1)不断变窄并向高频方向移动;（2）高频区（850－1300cm^-1)不断变窄且向低频区方向移动;（3）580cm^-1谱峰强度不断减弱,并在（0．8－1．0）GPa时最为显著,这是因为随着压力升高T－O－T（T＝Si,Al)键角（θ）不断减小,并且分布范围变窄,而580cm^-1谱峰的变化则由于在（0．8－1.0)GPa时包含Si,Al的平面三元环结构的“垮塌”造成的,钠长石熔体结构随压力升高的这种变化特征为其粘度变化所证实。     

高温高压下纯橄榄岩电导率的实验研究:改则-鲁谷冷地幔的电导率证据

在1.0-4.0GPa和643－1093K下利用阻抗谱法测定了西藏纯橄岩的电导率,实验结果表明,该纯橄岩的活化焓均小于0.9eV,可能为颗粒内部和颗粒边界同时参与的混合导电机制。以实验结果为依据,通过对西藏西部已有大地电磁测深资料（电导率－深度剖面）的反演得出：青藏高原的改则至鲁谷一带存在冷地幔。该结果从高温高压实验的角度为目前的冷地幔观点提供了有力的实验证据。     

355～445℃,2.0～5.5GPa下合成的SiO2玻璃

利用ＹＪ－３０００吨压机,在高压（２．０－５．５ＧＰａ）和低温（３５５－４４５℃）条件下,用光谱纯ＳｉＯ２合成了一系列ＳｉＯ２玻璃,它们的红外光谱特征与高密度石英玻璃相似,同时,红外光谱显示ＳｉＯ２玻璃中含有少量的水,且以ＯＨ离子的形式存在。可能正是由于少量的水,对ＳｉＯ２的非晶化起了重要作用。对这些ＳｉＯ２玻璃折射率的测定表明,ＳｉＯ２玻璃的折射率以及高密度威武央玻璃的折射率与合成压力呈很好的对     

高温高压下干热辉长岩的阻抗谱实验研究

在1.0和2.0GPa,593～1173K下研究了干热辉长岩的阻抗谱.研究表明,复阻抗对频率具有依赖性,复阻抗平面上出现了反映颗粒内部和颗粒边缘传导机制的阻抗弧.颗粒内部的阻抗弧出现在10 2～10 5 Hz的频率范围内;颗粒边缘的阻抗弧出现在12～100Hz的频率范围内.用CNLS程序拟合了对应颗粒内部传导机制等效电路的各个元件.当辉长岩中有石榴石出现时,电导率发生突变.     

压力对NaAlSi3O8熔体结构影响的实验研究

通过对NaAlSi3O8熔体的玻璃进行Raman光谱研究,发现随着压力升高(105Pa～2.0GPa),(1)低频区(50～650cm-1)不断变窄并向高频方向移动;(2)高频区(850～1300cm-1)不断变窄且向低频区方向移动;(3)580cm-1谱峰强度不断减弱,并在(0.8～1.0)GPa时最为显著.这是因为随着压力升高T-O-T(T=Si,Al)键角(θ)不断减小,并且分布范围变窄;而580cm-1谱峰的变化则由于在(0.8～1.0)GPa时包含Si,Al的平面三元环结构的"垮塌”造成的.钠长石熔体结构随压力升高的这种变化特征为其粘度变化所证实.