排序方式: 共有1条查询结果,搜索用时 1 毫秒
1
1.
SoC的可测试性设计技术 总被引:3,自引:0,他引:3
基于可复用的嵌入式IP(intellectual property)模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战,需要研究开发新的测试方法和策略,结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点。详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案;IEEEP1500和虚拟插座接口联盟(VSIA)测试访问结构。 相似文献
1