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为了研究有机薄膜电致发光器件发光区暗斑的形成,制备了Al/8-羟基喹啉铝/铟锡氧化物/玻璃衬底结构的发光器件,观察了器件失效前后的表面形貌,并对器件进行了微区Auger能谱分析。结果表明,铟锡氧化物电极表面In向有机层内的扩散是产生微区高电场,从而形成发光区暗斑的一个不可忽视的重要因素。  相似文献   
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