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Sol-Gel法制备Al掺杂ZnO薄膜的微结构及电学特性   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用溶胶-凝胶法在Si(100)衬底上制备了不同浓度Al掺杂的ZnO(AZO)薄膜。XRD研究表明Al掺杂对薄膜的结晶产生明显的影响。用四探针法测量其电阻特性,表明在1 mol%Al掺杂,600℃下退火,其电阻率最低。  相似文献   
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