硅稳压二极管的高温贮存加速寿命试验及失效分析

一、引言我们曾与某厂的同志一道,用“加速寿命试验”的方法对硅稳压二极管2CW_2的可靠性作了考查,其中主要的一项实验是“高温贮存加速寿命试验”。选取的温度为100、125、150、175、200和225℃共六组,每组分别存放受试元件100或200只,试验连续进行了五千小时。我们采用图估计法处理实验数据,计算了分布参数和失效激活能,预测了在正常温度下的寿命。实验结果表明,这批元件的累积失效率基本上服从威布尔分布。