双枪脉冲法测量介质二次电子发射特性

本文介绍测量绝缘介质二次电子发射系数的双枪方法,并在动态系统中进行测量。应用该方法,测量了典型样品MgF_2薄膜的二次发射特性。对于影响测量结果的诸多因素进行了定量的实验研究,并对实验结果作了初步分析和讨论。实验误差不超过6％。     

海上风场的数值予报试验

利用边界层阻尼定律将计算海上风场的边界层模式和北大五层原始方程模式相结合,进行洋面风场的数值予报。予报结果和实况相比是令人满意的。     

《YUP-2型双枪脉冲二次电子发射系数测量系统》通过技术鉴定

云南大学物理系研制设计的《YUP-2型双枪脉冲电子二次发射系数测量装置》于1990年5月29日通过技术鉴定.鉴定委员会认为,“该装置在国内达到了领先水平,填补了我国的空白。” 这套系统是测量金属、半导体、及介质薄膜的二次电子发射系数及二次发射特性曲线的大型通用型精密仪器.由于采用双电子枪——其一为测量枪,提供脉动的一次电流;另一为平衡枪,提供均匀的电子束流作为电荷补充,可以消除绝缘介质表面的充电效应,故,《YUP—2》主要用于难度大的介质材料二次发射系数的测量.采用无油超高真空机组     

一种简易可行的MgO薄膜制备方法及其二次发射特性

本文提出了一种简易的制备MgO靶的方法,并对其二次电子发射特性进行了大量的实验研究。测得的二次发射系数高达12。并用扫描电子显微镜观测了该薄膜表面形貌及对结构成份作了初步分析。所有这些实验数据对有关工作有一定实际参考价值。     

二次电子发射的半经验理论

本文介绍了关于二次电子发射的半经验理论。在引用、整理及分析Stambach, Whetten, Willis等人发表的一系列物质的二次电子发射系数实验数据,并与理沦曲线对比的基础上,对Lye和Dekker的“Constant-loss”理论提出了一定的修改意见。文中提出,该理论公式中的n值并非普适常数,而是与物质的ρ(密度)、A(原子量或分子量)、Z(原子序数或分子中的电子数)有关。亦即,二次电子发射系数的归一化曲线并不表现为与物质特性无关的统一形式。经过计算,得出的近似公式。将该公式用于若干种介质材料得到的理论曲线与实验数据较为符合。