低功耗测试研究进展

随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点.文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗;其次,分类介绍目前常用的测试功耗控制技术;然后,对研究热点的变化和技术发展的趋势做出说明.     

箱形结构截面扭转中心的确定及应用

基于箱形薄壁粱的实际构造情况和用于薄壁构件约束扭转计算的YMANCK第二理论,对工程结构中常用的单箱双室薄壁箱形粱截面的扭转中心位置进行了理论推导,并得到了扭转中心的显式表达式．算例表明,该计算公式正确、使用方便。具有广泛的适用性。