磁导率张量分量测量的方法

以微扰理论为基础,当圆片形样品受线偏振波磁场作用条件下,给出了根据实验数据来计算磁导率张量分量的方法。得到了表现磁导率和磁导率张量分量,退磁因子之间的依赖关系式;并对测量数据的方法作了简单的介绍。 在实验上检验了上述方法的正确性。     

钇柘榴石型铁氧体静磁型共振研究

对球形样品,静磁型共振被激发出的条件足微波磁场不均匀。我们对圆片形样品进行了研究。当H_0垂直样品表面时,即使在微波磁场是均匀的条件下,同样会激发出静磁型共振。分析了静磁型共振被激发的条件。认为:当H_0垂直圆片表面时,其内部的退磁场是不均匀的,就使得内部磁化强度M_5分布不均匀,从而导致高频磁化强度产生不均匀的分布。由此就得到了新的激发出静磁型共振的条件。比较了两种条件,虽然表现形式不同,但内部过程是相同的。     

掺Sm、Pr的 MnBi合金薄膜的磁性结构和磁光性能研究

讨论了掺Sm、pr的MnBi合金薄膜的结构、磁性和磁光性能。实验表明,经过退火处理(375℃~425℃/2~4h),样品形成MnBi晶体结构。掺杂含量x=0.1~0.25,样品具有较大的Kerr角(θ(Kmax)=2.57°),内禀矫顽力_MH_c=1.5~5.6KO_e,剩余磁化强度σ_r=30.0~52.3KO_e,剩磁比r=0.88~9.98。磁光谱表明,随着掺杂含量的增大,MnBi样品Kerr角的极大值向长波方向移动。在变温过程中,样品的矫顽力随温度上升而增大,在薄膜(d<250nm)情况下矫顽力以形核机制为主。