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用低频内耗研究Cu-Al-Be合金的相变过程 总被引：1，自引：0，他引：1
通过测量Cu-Al-Be合金在相变范围内的低频内耗,研究了在变温和等温条件下样品内耗与频率、温度变化率等关系在低于逆马氏体相变温度范围内,实验观测到一内耗峰,可能和相变前亚结构的变化有关. 相似文献
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