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针对传统LRU替换策略无法感知包含式缓存时间局部性的问题,提出一种适用于包含式缓存的共享末级缓存(SLLC)管理策略. 通过提前将无用数据存储于一个开销较小的旁路缓存,可以避免其与复用频率较高数据对SLLC的资源竞争,同时维护了包含属性. 为进一步寻找复用性最低的数据作为替换对象,构建一种局部性检测电路,有助于将此类数据尽早驱逐出SLLC,文中提出一种统一的管理算法,受益于两种预测器的相互校准,从而达到无用块旁路和低重用块替换的目的. 实验结果表明,所提策略将SLLC缺失率平均降低21.67%,预测精度提升至72%,而硬件开销不到SLLC的1%. 相似文献
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为缩短SoC的测试时间并减少测试硬件开销,提出一种高性能SoC测试结构. 通过重用存储控制逻辑作为测试接口,可以消除传统双向测试总线寄生的时间间隙,同时建立的流水化测试时序,避免了测试通道中引入的关键路径;针对功能和结构双重测试需求,复用片上总线系统作为测试访问机制结构并对其进行无损式改造,减少了测试访问的等待时长;同时构建的一种不依赖于目标核的测试环,维持了测试通道与扫描链之间的带宽平衡. 实验结果表明,引入的测试结构使得测试时间缩短68%,面积开销下降36.1%,同时有效降低了对原始芯片性能的影响. 相似文献
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