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采用Sol—Gel法及spin—coating法制备出了SrBi2Ta2O9(SBT)铁电薄膜．通过对“对密度分布函数”(pairdistributionfunction，PDF)中结构因子的修正，利用X射线衍射的：PDF数据对铁电材料SrBi2Ta2O9的结构尺寸进行了分析，得出分布几率随陈化温度的变化呈现出不同的变化规律的结果．将2种陈化温度下的PDF数据和SrBi2Ta2O9扫描电镜的结果进行了对比分析，结果表明PDF法在分析局域结构以及局域结构和平均结构之间的关系方面更具优越性。 相似文献
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