低能质子引起的原子L壳的电离

利用270—450Kev 质子轰击 Pd、Ag、Cd、In、Ta、Au 和 Pb 厚靶、测得 L X—线产生截面,并与ECPSSR 理论作了比较.     

0.4-3.0Mev质子激发Al和Si薄靶的k-x射线研究

我们研究了能量在0.4—3.0Mev 范围的质子轰击 Al 和 Si 薄靶产生的 k 壳层 X 射线,得到了 k 壳层 X 射线产生截面以及相应的电离截面,并与 PWBA 及 ECPSSR 的预言值作了比较.     

两核子转移反应~(36)Ar(~(11)B、~9Be)~(38)k

用115Mev~(11)B 束轰击~(36)Ar 产生两核子转移反应,用固体探测器望远镜在θL=8°处测量了反应产物的能谱,观察到~(38)k 的3~ ,7~ 和5~ 等三个能级.对有关的单核子转移反应用 DWBA 进行了计算,以检验束缚态和光学模型参数.用壳模型计算了有关核的谱幅度.最后,假定反应机制是顺序转移的多步过程,用耦合反应道理论(CRC)计算了截面.理论截面与实验截面比较的结果表明,顺序转移可能是该反应的主要机制.     

ZG-1型水分密度计与美国3221型水分计特性的对比测试

本文报告了用兰州大学研制的 ZG—1型水分密度计和美国 Troxler 公司生产的3221型水分计(Depth M(?)sture Gauge)特性的对比测试结果.测定了两种仪器的率定曲线;计算机拟合,给出了率定曲线的多项式表示式;比较了两种仪器在测定土壤水分剖面中的分层能力.测定表明,ZG-1型水分密度计与美国3221型水分计性能相似.