低能质子引起的原子L壳的电离

利用270—450Kev 质子轰击 Pd、Ag、Cd、In、Ta、Au 和 Pb 厚靶、测得 L X—线产生截面,并与ECPSSR 理论作了比较.     

0.4-3.0Mev质子激发Al和Si薄靶的k-x射线研究

我们研究了能量在0.4—3.0Mev 范围的质子轰击 Al 和 Si 薄靶产生的 k 壳层 X 射线,得到了 k 壳层 X 射线产生截面以及相应的电离截面,并与 PWBA 及 ECPSSR 的预言值作了比较.     

在Xe^q＋（q=25，29）离子与Mo金属表面相互作用过程中离子动能及电荷态的作用

测量了Xe^25＋和Xe^29＋入射Mo金属表面发出的L壳层的x射线谱,观测入射离子动能范围在350～600keV之间的x射线强度．研究了x射线强度与入射离子动能及电荷态的关系,并给出了初步解释．     

高电荷态氩离子与Ne原子碰撞过程中的转移电离截面的研究

采用符合关联实验技术进行的Ar^q+ + Ne (q = 8, 9, 11, 12)碰撞体系中多电子转移过程的研究. 在实验上鉴别了反应中各种电子转移过程, 并测量了转移电离截面. 研究了转移电离截面与反冲离子电荷态的关系, 并利用修正后的分子过垒模型计算结果与实验结果进行了对比分析, 计算结果较合理地描述了实验现象.     

ZG-1型水分密度计与美国3221型水分计特性的对比测试

本文报告了用兰州大学研制的 ZG—1型水分密度计和美国 Troxler 公司生产的3221型水分计(Depth M(?)sture Gauge)特性的对比测试结果.测定了两种仪器的率定曲线;计算机拟合,给出了率定曲线的多项式表示式;比较了两种仪器在测定土壤水分剖面中的分层能力.测定表明,ZG-1型水分密度计与美国3221型水分计性能相似.     

高电荷态氩离子与Ne原子碰撞过程中的转移电离截面的研究术

采用符合关联实验技术进行的Ar^q Ne(q=8，9，11，12)碰撞体系中多电子转移过程的研究。在实验上鉴别了反应中各种电子转移过程，并测量了转移电离截面．研究了转移电离截面与反冲离子电荷态的关系，并利用修正后的分子过垒模型计算结果与实验结果进行了对比分析，计算结果较合理地描述了实验现象．     

基于低通S-K滤波器的核脉冲成形电路

将S-K滤波器应用于核脉冲信号的成形中,采用较少的级数就可以达到准高斯波形的输出.仿真了基于低通S-K滤波器的滤波成形电路的特性,并给出了最佳的滤波器参数.采用宽带高速运算放大器设计和实现了该电路,通过实验证明了该电路的优越性.