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1.
铁电薄膜C-V特性测量研究
冯术成
杨传仁
陈宏伟
符春林
廖家轩
尹开锯
《实验科学与技术》
2005,3(Z1):129-131
采用TH2828型LCR测试仪及四端对接测量方法,搭建了铁电薄膜的介电特性测试平台.利用此测试平台对自制钛酸锶钡(简称BST)铁电薄膜材料的C-V特性进行测量,能准确表征铁电薄膜的介电特性.
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