双口RAM设计调试

本文介绍双口RAM的设计调试,主要就电平的匹配,握手应答信号等方面进行设计,并针对调试中出现的问题（如器件选型不当、逻辑设计不完善、低温异常）给予分析。     

高速接口设计调试

本文介绍高速接口的设计调试,主要就多端口、数据传输的实时性等方面进行设计,并针对调试中出现的问题(如数据丢包、重复、接收端收不到最后一个数据、多路接口)给予分析。