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工业计算机断层成像(Computed Tomography,CT)以其在非接触、无破坏的条件下对于待测物体内部结构进行高分辨率三维成像的优势成为实现全尺寸测量的有力工具.然而在实际应用中,工业CT在测量精度、可重复性、误差控制、数据采集效率等方面还有待进一步的突破与提高.为此,该项目通过深入探究X射线成像的物理机制,挖...  相似文献   
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